Bulunan Sonuç İçin Başlık ve Bağlantı Bulunan Sonuç İçin Açıklama
Bulunan Sonuç İçin Başlık ve Bağlantı Bulunan Sonuç İçin Açıklama

Elektron Mikroskopi Laboratuvar

(FEI) THERMO FISHER SCIENTIFIC QUATTRO S ESEM TARAMALI ELEKTRON MİKROSKOBU

     Mikro ve nano yapıların görüntülenmesi, Ar-Ge çalışmalarının vazgeçilmez  bir  parçasıdır.  Elektron Mikroskopi Laboratuvarımızda  bulunan FEG (Alan Emisyon Tabancalı) Taramalı  Elektron  Mikroskobu  (SEM)  ile,  malzemelerin  mikro ve  nano  boyutta  görüntülenmesi, EDS  (Energy  Dispersive  X-ray Spectroscopy) ile elemental kompozisyonları belirlenebilmektedir.

     Laboratuvarımızda bulunan FEG-SEM sistemi ile numuneye bağlı olarak  1.0  nm  çözünürlüğe kadar yüksek çözünürlüklerde görüntü alınabilmekte ve 1.000.000x büyütme oranına çıkılabilmektedir.

Sistemin sahip olduğu Navigasyon kamerası sayesinde ‘’numune tablasının ve stupların tamamının, numunelerle birlikte renkli görüntüsü’’ alınabilmektedir. Bu sayede araştırmacının ilgilendiği yerin belirlenmesi çok kısa zaman almakta ve hızlı sonuçlar verilebilmektedir.

     Sistemimizde bulunan MAPS Correlation özelliği ile farklı mikroskoplardan (floresan, ışık mikroskobu, konfokal mikroskop, IR & Raman mikroskop vb.) gelen görüntü ve numuneler ile  korelasyon imkanı sunulmaktadır. Bu sayede farklı tekniklerle işaretlenip belirlenmiş yerlerin SE, BSE dedektörleri ile de yüksek büyütme ve çözünürlüklerde görüntülenmesi mümkün olmaktadır.


Farklı Analiz Modları: 

  Yüksek Vakum Modu: İletken örnekler, toz örnekler, ince filmler, kaplanmış yalıtkan örnekler.

·       1.0 nm@ 30 kV çözünürlükte görüntü alınabilmektedir.

  Düşük Vakum Modu: Kaplama yapılmamış yalıtkan örnekler, polimerler, cam örnekler vs.

·       1.3nm@ 30 kV çözünürlükte görüntü alınabilmektedir.

  ESEM: Biyolojik örnekler, nem ihtiva eden örnekler.

·       1.3nm@30kV çözünürlükte görüntü alınabilmektedir.

 


(FEI) THERMO FISHER SCIENTIFIC TALOS L120C (TEM) GEÇİRİMLİ ELEKTRON MİKROSKOBU

     Laboratuvarımızda kurulu 120kV’lık (TEM)Geçirimli Elektron Mikroskobu ile ultra mikrotom sisteminde hazırlanmış ince doku kesitleri, nano partiküller, grafen vb. numuneler çalışılabilmektedir. C-TWIN Lens teknolojisi ile donatılmış sistemde en yüksek kontrastta görüntü eldesi mümkündür.


TALOS L120C TEM Cihazı Genel Özellikleri:

    TEM Line Resolution : 0.204 nm

    TEM Point Resolution : < 0.37 nm

    TEM Büyütme Aralığı :  25 – 650 kx

    Alfa Eğim Açısı (Standard tutucular ile) :  -90° to +90°


BİZEULAŞIN
Kayışdağı Caddesi No:32, 34752
Ataşehir / İstanbul